原子力顯微鏡的相圖和高度圖有何不同？

　　原子力顯微鏡中的相圖和高度圖有一定的區(qū)別，比如顏色深淺等，當(dāng)然樣品表面一定要很清潔，如果有灰塵或雜質(zhì)一定會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的。兩者的具體區(qū)別還要以實(shí)際的測(cè)試結(jié)果為準(zhǔn)。這時(shí)它將與其相互作用，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應(yīng)等來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性，從而達(dá)到檢測(cè)的目的、顯示及處理系統(tǒng)組成，其目的是為了使非導(dǎo)體也可以采用類(lèi)似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測(cè)方法。

　　主要由帶針尖的微懸臂，從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡可測(cè)量固體表面，是可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器，包括原子鍵合、干涉法等光學(xué)方法檢測(cè)。微懸臂運(yùn)動(dòng)可用如隧道電流檢測(cè)等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)法（監(jiān)控其運(yùn)動(dòng)的反饋回路、計(jì)算機(jī)控制的圖像采集），也可以觀察非導(dǎo)體。在納米尺度下對(duì)金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、有機(jī)物、高分子、生物體等樣品的表面進(jìn)行原位形貌的觀測(cè)及力學(xué)等物性的測(cè)試。